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 1、查驗(yàn)方法例行實(shí)驗(yàn)：是制作廠對悉數(shù)制品電纜進(jìn)行的實(shí)驗(yàn)。其意圖是查看產(chǎn)品質(zhì)量是否契合技能條件的要求，以便發(fā)現(xiàn)制作過程中的偶然性的缺點(diǎn)。它對錯(cuò)損壞性的實(shí)驗(yàn)，如導(dǎo)線的直流電阻、絕緣電阻時(shí)刻。和耐壓實(shí)驗(yàn)部分放電檢測等。

型式實(shí)驗(yàn)：是制作廠家守時(shí)對產(chǎn)品進(jìn)行全面的功能查驗(yàn)，特別是對一種新產(chǎn)品在定型成批生產(chǎn)之前，或?qū)σ环N產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)、資料和首要工藝有了改變而或許影響電纜的功能時(shí)進(jìn)行的實(shí)驗(yàn)。經(jīng)過型式實(shí)驗(yàn)：可查驗(yàn)該產(chǎn)品能否滿意運(yùn)轉(zhuǎn)的要求，并可與老產(chǎn)品進(jìn)行比較。如絕緣和護(hù)套的熱老化功能、電力電纜長時(shí)刻安穩(wěn)性實(shí)驗(yàn)等。

檢驗(yàn)實(shí)驗(yàn)：是電纜裝置敷設(shè)后對電纜進(jìn)行的檢驗(yàn)實(shí)驗(yàn)，以便查看裝置質(zhì)量，發(fā)現(xiàn)施工中或許生的損害。如裝置后的耐壓實(shí)驗(yàn)等。

2.實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目

2.1導(dǎo)線直流電阻的丈量

電線電纜的導(dǎo)電線芯首要傳輸電能或電信號。導(dǎo)線的電阻是其電氣功能的首要目標(biāo)，在溝通電壓效果時(shí)線芯電阻因?yàn)榧w效應(yīng)、附近效應(yīng)面比直流電壓效果時(shí)大，但在電眼頻率為50Hz時(shí)兩者相差很小，現(xiàn)在規(guī)范規(guī)則那個(gè)均只能要求檢測線芯的直流電阻或電阻率是否超越規(guī)范中的規(guī)則的值，經(jīng)過此項(xiàng)的查看能夠發(fā)現(xiàn)生產(chǎn)工藝中的某些缺點(diǎn)：如導(dǎo)線開裂或其間部分單線開裂；導(dǎo)線截面不契合規(guī)范；產(chǎn)品的長度不正確等。對電力電纜，還可查看其是否會(huì)影響電線電纜產(chǎn)品的運(yùn)轉(zhuǎn)中答應(yīng)載流量。

對導(dǎo)體直流電阻的丈量有單臂直流電阻法和雙臂直流電橋法，后者的準(zhǔn)確度較前者高一些。測驗(yàn)過程也較前者雜亂。

2.2絕緣電阻的測驗(yàn)

絕緣電阻式反映電線電纜產(chǎn)品絕緣特性的重要目標(biāo)，它與該產(chǎn)品的耐電強(qiáng)度，介質(zhì)損耗，以及絕緣資料在作業(yè)狀態(tài)下的逐步劣化等均有親近的聯(lián)系。關(guān)于通訊電纜，線間絕緣電阻過低還會(huì)增大回路衰減、回路間的串音及在導(dǎo)電線芯上進(jìn)行遠(yuǎn)間隔供電走漏等，因而都要求絕緣電阻應(yīng)高于規(guī)則值。

測定絕緣電阻能夠發(fā)現(xiàn)工藝中的缺點(diǎn)，如絕緣枯燥不透或護(hù)套損害受潮；絕緣遭到污染和有導(dǎo)電雜質(zhì)混入；各種原因引起的絕緣層開裂等。在電線、電纜的運(yùn)轉(zhuǎn)中，常常要檢測絕緣電阻和走漏電流，以此作為是否能夠持續(xù)安全運(yùn)轉(zhuǎn)的首要依據(jù)。

現(xiàn)在電線電纜絕緣電阻的丈量，除了用歐姆計(jì)（搖表）外，常用的有檢流計(jì)比較法高阻計(jì)法（電壓——電流法）。

2.3電容及損耗因數(shù)的丈量

電纜加上溝通電壓，就有電流流過，當(dāng)電壓的幅值和頻率一守時(shí)，電容電流的巨細(xì)是正比于電纜的電容（Cx）。關(guān)于超高壓電纜，這種電容的電流或許到達(dá)與額外電流能夠比較的數(shù)值，成為約束電纜容量和傳輸間隔的重要因素。因而電纜的電容也是電纜的首要的電功能參數(shù)之一。

在溝通電場中，電纜中的絕緣體因?yàn)樽呗╇娏骱透鞣N極化存在，會(huì)構(gòu)成介質(zhì)損耗，以介質(zhì)損耗因數(shù)或損耗角正切值（TANδ）來表明，它不光糟蹋電能，并且會(huì)使介質(zhì)（絕緣體）發(fā)熱，加快絕緣老化，因而TANδ也是電纜首要參數(shù)之一。

經(jīng)過電容和損耗因數(shù)的丈量能夠發(fā)現(xiàn)絕緣受潮，絕緣層和屏蔽層掉落等各種絕緣劣化現(xiàn)象，因而不管在電纜制作或電纜運(yùn)轉(zhuǎn)中都有進(jìn)行電容和TANδ的丈量。

對高壓電纜，Cx和TANδ的丈量都在其作業(yè)條件下，即工頻高壓下進(jìn)行的，一般運(yùn)用的都是高壓西林電橋，今年來也有開始運(yùn)用電流比變壓器電橋。

2.4絕緣強(qiáng)度實(shí)驗(yàn)

電線電纜的絕緣強(qiáng)度是指絕緣結(jié)構(gòu)和絕緣資料接受電場效果而不發(fā)作擊穿損壞的才能，為了查看電線電纜產(chǎn)品質(zhì)量，確保產(chǎn)品能安全運(yùn)轉(zhuǎn)，一切絕緣類型的電線電纜一般都要進(jìn)行絕緣強(qiáng)度實(shí)驗(yàn)。絕緣強(qiáng)度實(shí)驗(yàn)可分為耐壓實(shí)驗(yàn)和擊穿實(shí)驗(yàn)。

耐電壓實(shí)驗(yàn)是在必定條件下對試品施加必定的電壓，在閱歷一守時(shí)刻后，以是否發(fā)作擊穿作為判別試品是否合格的規(guī)范。時(shí)刻的電壓一般高于該試品的額外作業(yè)電壓，詳細(xì)電壓值和耐壓時(shí)刻，產(chǎn)品規(guī)范中均有規(guī)則，經(jīng)過耐壓實(shí)驗(yàn)?zāi)軌驒z測產(chǎn)品在作業(yè)電壓下運(yùn)轉(zhuǎn)的可靠性和發(fā)現(xiàn)絕緣中的嚴(yán)峻缺點(diǎn)，也可發(fā)現(xiàn)生產(chǎn)工藝的一些缺點(diǎn)，如：絕緣有嚴(yán)峻外部損害，導(dǎo)體上有使電場急劇畸變的嚴(yán)峻缺點(diǎn)；絕緣在生產(chǎn)中有穿透性缺點(diǎn)或大的導(dǎo)電雜質(zhì)等。

擊穿實(shí)驗(yàn)是在必定的實(shí)驗(yàn)條件下，升高電壓直到試品發(fā)作擊穿停止，丈量擊穿場強(qiáng)或擊穿電壓。經(jīng)過擊穿實(shí)驗(yàn)?zāi)軌虿楹穗娎|接受電壓的才能與作業(yè)電壓之間的安全裕度。擊穿場強(qiáng)時(shí)電纜規(guī)劃中的重要參數(shù)之一。

電纜在運(yùn)轉(zhuǎn)中一般接受的是溝通電壓，但在直流輸電體系中及某些特別場合也有接受直流電壓的，關(guān)于高電壓電纜還或許要遭受大氣電壓（雷電）和操作過電壓的突擊。因而，按實(shí)驗(yàn)電壓波形的不同，能夠分為1.溝通（工頻）電壓、2.直流電壓、3沖擊電壓三種絕緣強(qiáng)度實(shí)驗(yàn)。

2.5部分放電丈量

關(guān)于充油電纜基本上沒有部分發(fā)電；油紙電纜即便有部分放電，一般也是很弱小的如幾個(gè)PC，因而這些電纜在出廠實(shí)驗(yàn)中能夠意外部分放電。關(guān)于擠塑電纜，不光發(fā)作部分放電的或許性大，并且部分放電對塑料、橡皮的損壞也比較嚴(yán)峻，跟著電壓等級的進(jìn)步，作業(yè)場強(qiáng)的進(jìn)步，這問題就顯得愈加嚴(yán)峻，因而對高壓擠塑電纜，在出廠實(shí)驗(yàn)中都要做部分放電丈量。

部分放電的丈量方法許多，能夠依據(jù)放電發(fā)作的瞬時(shí)電荷交流，丈量放電脈沖（電測法）；也可依據(jù)放電時(shí)發(fā)作的超聲波，丈量其電壓（聲測法）；還可依據(jù)放電發(fā)作的光，丈量光的強(qiáng)度（光測法）。關(guān)于電纜基本上都是采用電測法。

2.6老化及安穩(wěn)性實(shí)驗(yàn)

老化實(shí)驗(yàn)便是在應(yīng)力（機(jī)械、電、熱）效果下，能否堅(jiān)持功能安穩(wěn)的安穩(wěn)性實(shí)驗(yàn)。

2.6.2熱安穩(wěn)實(shí)驗(yàn)

熱安穩(wěn)性實(shí)驗(yàn)是電纜經(jīng)過電流加熱的一起還接受必定的電壓，在閱歷必定周期加熱之后，測定某些靈敏的功能參數(shù)來鑒定絕緣的安穩(wěn)性。

絕緣安穩(wěn)性實(shí)驗(yàn)分為長時(shí)刻的安穩(wěn)性實(shí)驗(yàn)或短期的加快老化實(shí)驗(yàn)兩種。

2.6.1熱老化實(shí)驗(yàn)

簡略的熱老化實(shí)驗(yàn)是檢測試品在熱的效果下發(fā)作老化的特性，把試品放在高于額外作業(yè)溫度溫度必定值的環(huán)境中，閱歷規(guī)則時(shí)刻后，丈量某些靈敏功能在老化前后的改變來鑒定老化特性。也能夠用進(jìn)步溫度加快試品老化，再加上受潮、振蕩、電場等熱、機(jī)、電等應(yīng)力組成一個(gè)老化周期，每個(gè)老化周期之后，測定某些選定的靈敏功能參數(shù)。直到該功能下降到表認(rèn)壽數(shù)之值。這樣在較高的溫度T下，得到較短的壽數(shù)L(試樣加熱的時(shí)刻)。